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利用光学传输矩阵方法研究了正折射率和负折射率材料交替组成的一维函数型光子晶体的能带结构和缺陷模特性．通过改变正折射率和负折射率的取值，发现随着正折射率值的增大缺陷模减弱，禁带变宽且数目增多；随着负折射率值绝对值的减小，缺陷模减弱且数目减少，禁带数目减少．该结论对光子晶体的设计，如滤波器、光学开关等具有重要理论意义和应用价值．