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为提高金属线胀系数的测量精度和灵敏度,以方便数字化测量与微机处理,以PSD光电传感器为核心实现微位移测量,采用光学放大机构提高微位移分辨率,利用BOS-PSD0018芯片实现微位移转换,并用单片机系统实现金属线胀系数的数字化处理与显示.用铜棒进行了标定测试,用铁棒进行检测试验,检测试验表明金属线胀系数最大相对误差为±2.3%,用光学放大机构使微位移分辨率比提高4倍.