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针对集成电路特征尺寸进入纳米级后软错误率持续攀升的问题,本文以状态机拆分和三模冗余令牌为基础,提出更为可靠的自恢复控制器结构,并对典型基准电路进行了故障注入和仿真综合实验。结果表明,该结构以很小的硬件代价取得了更好的容错效果。
一种基于三模冗余令牌的自恢复控制器
【摘 要】
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针对集成电路特征尺寸进入纳米级后软错误率持续攀升的问题,本文以状态机拆分和三模冗余令牌为基础,提出更为可靠的自恢复控制器结构,并对典型基准电路进行了故障注入和仿真综合实验。结果表明,该结构以很小的硬件代价取得了更好的容错效果。
【机 构】
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合肥工业大学计算机与信息学院中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室
【出 处】
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计算机应用
【发表日期】
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2009年02期
【基金项目】
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国家自然科学基金资助项目(60876028),, 国家自然科学基金重点项目(60633060),, 国家863计划项目(2007AA01Z113),, 中国博士后科学基金资助项目(20080430050),, 高校博士点新教师基金资助项目(2008JYXJ0829),, 中国科学院计算机系统结构重点实验室开放课题(ICT-ARCH200704)
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