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分析了单片机系统大容量存储的方法,提出了在存储测试系统中采用SD卡实现基于51内核单片机的大容量数据存储系统设计方案,介绍了单片机利用CH376实现对SD卡读写操作的工作原理和软硬件方法.该系统设计具有移植性好、可靠性高、数据回收便利等特点,并能实现低功耗要求,有利于扩大存储测试系统的应用领域.