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针对镨系Zno电阻片磨片前后非线性性能的变化，利用X射线衍射仪、扫描电子显微镜及X射线能谱仪对电阻片表面和本体进行分析。结果表明：镨系ZnO电阻片表面层与本体从组分、物相以及微观结构方面均有较大差异，表面层ZnO晶粒尺寸较小，为（2．0-3．1）μm，大小比较均匀。并且在晶界存在约0．7μm的富Pr相，有利于非线性的形成；而本体内的晶粒尺寸较大。为（3．0-4．8）μm。晶界几乎无杂相。磨片后ZnO电阻片表面成分的磨损是导致其非线性性能变差的主要原因．