FT—IR技术在半导体材料中的应用

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介绍了FT-IR测量技术在半导体材料中的应用。对Si、GaAs等材料的试样制备、杂质缺陷的测量及光谱研究进行了全面报道。大量实验结果表明,该技术是研究半导体材料结构、成分、杂质和缺陷特性的有效方法。
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