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基于倒谱分析的基本原理,认为倒谱反映的是信号和信号延迟之间的内在联系,可应用于粗糙表面轮廓的相关性分析.通过对几种典型机械加工试件测试和倒谱分析,并与以往的统计自相关函数描述方法比较后表明,倒谱同样可以用于随机过程表面的相关性分析,而且能非常容易地判别相关长度,相关性分析的灵敏度比自相关函数高.