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用离子束增强沉积方法制备了Si-N薄膜,其中Si由一束Ar离子从Si靶上溅射上下来,在溅射沉只的同时,以一束N离子轰击正在沉积的膜层,于是获得了Si-N膜。采用卢瑟福背散射,红外光谱和透射电镜对膜层的成分和结构进行了分析,结果表明:膜面平整,膜层为非晶或微晶结构,由Si和βS3N4组成。