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以快中子脉冲反应堆为试验平台，简要描述了电桥应力系统在强脉冲中子辐射场中的辐照效应表象，以效应试验结果为基础，分析了辐照效应产生机理，并据此提出了减小或消除辐照效应的基本方法。验证试验结果表明：精密桥臂电阻的瞬态中子辐射损伤是导致应变信号出现突变的根本原因，而采用辐射屏蔽和“背片法”的措施可以有效地减小或消除应力系统的辐照效应。