论文部分内容阅读
科学技术的进步促使集成电路产业迅猛发展，“摩尔定律”还在继续着它的预言，集成电路变得日益“娇小”，但单块硅芯片上所集成的晶体管数目却数量惊人，实现的功能更为强大，如何判断功能复杂的芯片是否实现预期的效果成为IC产业中非常重要的步骤。作为集成电路产业链中重要的一环：测试也是机遇和风险并存。Final Test是集成电路投入市场前的重要环节，测试结果的真实性、可靠性将直接影响到供应商的销售利润及公司声誉。文章抛开那些复杂的测试项目，分析了Final Test中常见的0S（Open／Short）失效案例及其应对