高精度质子磁力仪性能校验与干扰因素分析

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对于目前磁法测量地面移动式高精度质子磁力仪PMG-2的性能校验,给出不同工作的校验标准及要求,针对实际勘探工作过程中干扰因素进行分析研究,以及仪器出现的故障问题、干扰因素等,总结出有针对性的解决方案。通过实际工作过程的经验积累,对仪器的了解和仪器问题的研究,更好地解决随时出现的问题,保障生产项目数据采集质量,提高勘探精度,使磁异常推断解释更加准确。
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ue*M#’#dkB4##8#”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:(100084川C京市海淀区清华园申请人:清华大学发明人:隋森芳文摘:本发明属于生物技