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随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展，系统芯片（SOC）作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用。SOC的测试中，内建自测试（Built，In Self-Test，BIST）成为人们研究的热点。文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了探讨。
SOC基于LFSR的混合模式测试
【摘 要】
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随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展，系统芯片（SOC）作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用。SOC的测试中，内建自测试（Built，In Self-Test，BIST）成为人们研究的热点。
【机 构】
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苏州大学电子信息学院
【出 处】
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电子质量
【发表日期】
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2008年12期
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