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针对相位测量偏折术（PMD）检测平面光学元件面形的光路结构，系统地分析了各部件因各自由度的不确定度变化对重建面形的影响，并且提出了一种高精度的平面元件调整方法。通过对相移算法得到的显示器坐标与通过光线追迹得出的参考面显示器坐标进行比较，能够将被测镜调节至理想测试状态，从而能准确求出被测面上各点斜率，再采用波前重建算法，实现了光学元件面形重建。实验结果显示，有效口径为Ф140mm的平面元件在去掉Zernike多项式前6项的面形数据与干涉仪的测量结果差值在RMS=5nm以内，结果远优于未经过该方法调整的结果。