【摘 要】
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为了获得电阻阵列红外假目标变换的弛豫时间,为提高图样变换速度提出解决思路,通过对不同电阻（丝）的升、降温特性测试和分析指出：常见的电阻中金属膜电阻的升、降温时间最短,时
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为了获得电阻阵列红外假目标变换的弛豫时间,为提高图样变换速度提出解决思路,通过对不同电阻（丝）的升、降温特性测试和分析指出：常见的电阻中金属膜电阻的升、降温时间最短,时间在30s左右;2种康铜电阻丝的升、降温时间变化长于金属膜电阻,其中升温增长约22.4%,降温增长约43.9%。被釉电阻与陶瓷绕线电阻升、降温时间较长,均超过了100s;同一电阻,在不同加热电压下的升、降温时间基本一致;同一电阻其降温时间长于升温时间。实验结果表明：可通过选用质量小、比热容小的电阻及介质材料来降低电阻的升、降温时间,提高电阻
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