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测试压缩可以在没有故障覆盖率损失的情况下，极大地降低测试时间和测试数据量，弥补了测试设备和芯片制造能力提升之间的差距，受到学术界和工业界的广泛关注．测试数据分为测试激励和测试响应2种，测试压缩也对应分为测试激励压缩和测试响应压缩2个方面．本文针对这2方面分别展开了研究．主要贡献包含：（1）提出了一种Variable—Tail编码．Variable—Tail是一种变长一变长的编码，对于x位密度比较高的测试向量能够取得更高的测试压缩率．实验数据表明，如结合测试向量排序算法，则使用Variable—Tail编码