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目的探讨印讥基因在神经管缺损的表达及其作用机制。方法用中密度芯片基因比较正常小鼠与神经管缺损小鼠胚胎9．5、10．5d时神经管组织中Spin基因的表达差异，并经Northern杂交验证。结果通过比较发现：印讯基因在正常神经管组织表达上调趋势（Cy5／Cy3〉2．0），而在维甲酸诱导的神经管缺损组织中呈现下调趋势（Cy5／Cy3〈0．5）。结论Spin基因参与神经管缺损发生和发展过程，可能在神经管异常发育中具有重要作用，对该基因的研究有助于阐释神经管缺损的发病机制。