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分析了目前α-氧化铝含量测定过程遇到的问题,参考了多峰法定量分析在其他领域的应用,并将其成功地应用到α-氧化铝含量的测定中,解决了用YS/T 89-1995标准方法测得结果偏大的问题。
α-氧化铝的X射线定量分析
【摘 要】
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分析了目前α-氧化铝含量测定过程遇到的问题,参考了多峰法定量分析在其他领域的应用,并将其成功地应用到α-氧化铝含量的测定中,解决了用YS/T 89-1995标准方法测得结果偏大
【机 构】
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中国铝业郑州研究院
【出 处】
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理化检验(物理分册)
【发表日期】
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2008年2期
其他文献
采用射频磁控反应溅射在Si（100）衬底上制备了ZnO/AlN双层膜。使用X射线衍射仪、原子力显微镜（AFM）、LCR测试仪及荧光分光光度计等仪器对样品进行了结构、表面形貌、导电性及荧光