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将衍射光栅干涉和CMOS线阵图像传感器技术相结合，提出了自动测量透明材料折射率的方法．介绍了用CMOS线阵图像传感器来实现透明材料折射率测量的基本原理和数据采集方法．采用曲线拟合计算条纹移动距离，提高了对干涉条纹移动量测量的准确性，折射率精度可提高到10^-5数量级．
用CMOS线阵图像传感器测量透明材料的折射率
【摘 要】
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将衍射光栅干涉和CMOS线阵图像传感器技术相结合，提出了自动测量透明材料折射率的方法．介绍了用CMOS线阵图像传感器来实现透明材料折射率测量的基本原理和数据采集方法．采用曲线
【机 构】
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中央民族大学物理与电子工程学院,北京邮电大学电子工程学院
【出 处】
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物理实验
【发表日期】
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2007年10期
【基金项目】
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国家自然科学基金项目资助（No.60331010）
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