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应用边界层理论研究了多层电流片中ｍ≥２的双撕裂模的耦合发展行为，在一阶近似下，解析求得了环位形中撕裂模的外区匹配参数△，所得结论对撕裂模的线性和非线性发展均有意义，结果表明，两有理面模之间的耦合总是使双撕裂模更不稳定，耦合的强度不仅与两有理面之间的距离和平衡状态有关，而且与模在两有理面发展的相对强弱有关，两有理面相距愈远，耦合相对愈弱；发展强的理面处的模对另一有理面处的模影响更大。本文用所得结论要