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超薄栅氧MOS器件传统关态栅泄漏电流研究
超薄栅氧MOS器件传统关态栅泄漏电流研究
来源 :微电子学与计算机 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wjh75
【摘 要】
:
理论分析了MOSFET关态泄漏电流产生的物理机制,深入研究了栅氧化层厚度为1.4nm MOSFET传统关态下边缘直接隧穿栅泄漏现象.结果表明:边缘直接隧穿电流服从指数变化规律;传统关
【作 者】
:
胡仕刚
吴笑峰
席在芳
【机 构】
:
湖南科技大学信息与电气工程学院
【出 处】
:
微电子学与计算机
【发表日期】
:
2011年12期
【关键词】
:
直接隧穿
MOSFET
栅氧化层
direct tunneling
MOSFET
gate oxide
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理论分析了MOSFET关态泄漏电流产生的物理机制,深入研究了栅氧化层厚度为1.4nm MOSFET传统关态下边缘直接隧穿栅泄漏现象.结果表明:边缘直接隧穿电流服从指数变化规律;传统关态下边缘直接隧穿对长沟道器件的影响大于短沟道器件;衬底反偏在一定程度上减小边缘直接隧穿泄漏电流.
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