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根据弹性分组环专用集成电路的具体情况，提出了相应的可测性设计（Design for Testability，DFT）方案，综合运用了三种DFT技术：扫描链、边界扫描测试和存储器内建自测试。介绍了三种技术的选取理由和原理，对其具体实现过程和结果进行了详细分析。DFT电路的实现大大降低了专用集成电路的测试难度，提高了故障覆盖率。