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在分析常用X射线闪光透视技术、电荷耦合器件（CCD）感光成像原理及其高能粒子探测应用的基础上，相对于通常的转换屏耦合CCD间接记录法，采用自行设计的RJ2421AB0PB型CCD感光成像电路，配合图像采集卡和计算机组成实验系统，对不同管电压的X光机所产生的射线进行直接探测成像实验，得到了CCD的直接响应图像，从而分析出CCD对不同能量的X射线光子的响应特性和辐射损伤评估，验证了直接探测技术的可行性，并给出了目标物体的局部闪光透视图像。