Tips-PEN薄膜载流子迁移率的稳态SCLC与阻抗谱法测量的研究

来源 :液晶与显示 | 被引量 : 0次 | 上传用户:heshark
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
利用稳态SCLC法和阻抗谱法测量了由溶液工艺制备的Tips-PEN薄膜的空穴迁移率,并对两种方法的测试结果进行比较和分析。测试样品是p+Si/PEDOT∶PSS/Tips-PEN/Ag构成的单载流子器件。稳态SCLC法测试的器件Tips-PEN厚度为87nm,得到零场迁移率和场依赖因子分别为1.21×10^-5 cm^2/(V·s)和0.002 4(cm/V)^1/2;阻抗谱法测试的器件Tips-PEN厚度为827nm,得到零场迁移率和场依赖因子分别为1.219×10^-5
其他文献
针对便携式仪器仪表对彩屏液晶显示器件依赖性逐渐增强的现状,设计并研制了以Xilinx公司生产的型号为XC3S400的FPGA芯片为硬件核心,以嵌入式8051IP核为时序控制核心的TFT-LCD
在无水乙醚中制备了二(2,4-二甲基-8-羟基喹啉)(苯酚)铝[Al(DMQ)2Ph],二(2,4-二甲基-8-羟基喹啉)(对戊基苯酚)铝[Al(DMQ)2PenPh]两个络合物,通过红外光谱、紫外光谱、元素分析等进行了结
设计了一种基于动态扫描原理的液晶显示(LCD)驱动芯片。该芯片为高压CMOS数模混合集成电路并支持输出频率可选功能。芯片输入数据频率为13.5MHz,输出1 024级256列模拟电压信号