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给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法.实验表明,该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点.
基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法
【摘 要】
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给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法.实验表明,该测试方法具有所需
【机 构】
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哈尔滨工程大学,东北轻合金有限责任公司
【出 处】
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哈尔滨工业大学学报
【发表日期】
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2004年8期
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