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在光学显微镜下观察了不同产地华中五味子(Schisandra sphenanthera Rehd.et Wils.)叶表皮结构和导管分子特征,应用多元回归方法对不同产地华中五味子的叶表皮特征及导管分子特征与环境因子的关系进行了分析.观察的指标有叶表皮特征(气孔器密度、气孔器指数、气孔器长宽、气孔器面积、气孔极区角质加厚、气孔器类型、表皮细胞垂周壁形状、分泌细胞密度及叶表面角质条纹)和导管分子特征(导管分子长度、直径、长/直径比值及穿孔板类型).观察结果:上表皮有极少量气孔器和分泌细胞分布.在下表皮,气孔器