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期刊论文
平面工艺辐射探测器的研制
平面工艺辐射探测器的研制
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:luoxueyan191
【摘 要】
:
使用高阻Si材料,通过氧化、光刻、注入和退火工艺技术研制粒子探测器--PIN二极管,采用HC1氧化、慢降温等工艺措施可以减小PIN二极管的暗电流(反向电流),这对于提高器件性能起到了关
【作 者】
:
张太平
张洁天
等
【机 构】
:
北京大学微电子所,北京大学物理所
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
2001年3期
【关键词】
:
PIN二极管
少子寿命
平面工艺
辐射探测器
PIN diode
dark current
recombination center
minority life
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使用高阻Si材料,通过氧化、光刻、注入和退火工艺技术研制粒子探测器--PIN二极管,采用HC1氧化、慢降温等工艺措施可以减小PIN二极管的暗电流(反向电流),这对于提高器件性能起到了关键作用。电压为-5V时,探测器的暗电流可达nA/cm^2量级,讨论了器件暗电流与少子寿命的关系。
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