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本文讨论了一种简单、有效,在Apple-Ⅱ微机系统上实现测试74/54系列ICs的逻辑功能,提供其逻辑接线图,搜索出功能正常但型号不明之芯片的型号,测试同一芯片上各独立逻辑功能组件的逻辑功能的测试装置。系统的工作原理基于存贮响应法:即向被测件提供测试图形并取回相应的响应图形与机内存贮的“正确”响应相比较。文中给出了一种器件的测试数据。所讨论的思想方法适用于对系统功能的再扩展。