稻壳制备高纯高表面积SiO2的研究

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稻壳在稀盐酸中沸煮、干燥后,于540℃煅烧,制得了一种高纯高表面积SiO2.ICP-AES测定结果表明了该SiO2中杂质的质量含量为5.6×10-6,激光粒度仪测定其体积平均粒径为19.67μm,BET法研究表明了它的比表面积为280 m2/g.并利用XRD研究了稻壳在制备过程中的结构变化.
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