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高分光比光纤零耦合器临界耦合特性的理论分析与实验论证
高分光比光纤零耦合器临界耦合特性的理论分析与实验论证
来源 :中国激光 | 被引量 : 0次 | 上传用户:linjianvhai
【摘 要】
:
对光纤失配非对称耦合器中的模式耦合特性进行了理论和实验研究,给出了两光纤失配量的临界判据r2/r1=0.62~0.63,指出当失配度超过此下限后,因出现高阶模的耦合而降低分光比.合
【作 者】
:
李佟
彭江得
刘小明
刘丹
【机 构】
:
清华大学电子工程系
【出 处】
:
中国激光
【发表日期】
:
2001年8期
【关键词】
:
零耦合器
分光比
光纤包层
耦合特性
失配
高阶模
理论分析
非对称
基模
光纤器件
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对光纤失配非对称耦合器中的模式耦合特性进行了理论和实验研究,给出了两光纤失配量的临界判据r2/r1=0.62~0.63,指出当失配度超过此下限后,因出现高阶模的耦合而降低分光比.合理控制失配量,研制出分光比为5×103~105,损耗为0.1~0.2 dB的光纤零耦合器.
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