偏压对钛薄膜显微组织及力学性能的影响

来源 :中国有色金属学报:英文版 | 被引量 : 0次 | 上传用户:theone2005
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为了研究纳米结构金属Ti的纳米力学性能,在偏压为0-140 V的范围内,采用磁控溅射方法制备纯钛薄膜。并采用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)表征钛薄膜的显微组织。结果表明:钛薄膜呈现非晶与纳米晶的混合结构,且晶化程度随着偏压的升高而增大。纳米压痕测试结果表明:钛薄膜的硬度与晶粒尺寸在6-15 nm的范围内符合Hall-Petch关系。但其Hall-Petch关系的斜率与采用其他强烈塑性变形法制备的超细晶纯钛相比,明显偏小,且呈现软化趋势。此外,讨论偏压
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