不合格测量设备的控制及对所出具数据的追溯

来源 :中国计量 | 被引量 : 0次 | 上传用户:Colo
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
其他文献
李俭著文指出:科学发展观进一步明确了我国要发展、为什么发展和怎样发展的问题。一位中央领导同志在概括这一发展观时说:这实质是坚持文明发展、发展文明。
AMD:追求突破界限,挑战无限可能 自创立以来,AMD一直是一家追求突破界限.挑战无限可能的创新半导体设计公司。多年来,AMD将—代又—代新技术带给数千万用户,并以最合理的价格为全世