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新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是围产期新生儿的最常见疾病.如何显示和判断HIE过程中患儿脑细胞的存活状态是一个有待解决的重要研究课题.磁共振的功能成像的综合应用在确认半暗带是否存在、缺血缺氧治疗时间窗的把握和脑细胞营养保护药的个体化应用等方面极占优势.对于新生儿HIE中半暗带的研究,现还处于初级阶段.现就磁共振的功能成像在新生儿缺氧缺血半暗带中的应用研究方面作一综述.