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高速SerDes（SERializer／DESerializer）设备在高速芯片I／O接口互联上已经占有统治性地位。然而随着串行链路速率不断提高，随之而来的抖动等因素对高速SerDes成品率构成极大威胁。本文首先对SerDes的结构进行介绍，然后对高速serDeS中信号抖动进行定性分析，最后提出了几种重要的SerDes测试方法，对高速Serdes的测试具有一定参考价值。