IEEE754标准浮点测试向量的生成

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【摘要】

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介绍了在IEEE754标准的规定下生成用于浮点功能部件的测试向量的方法,讨论了测试向量在数据通路上的差错覆盖率,并给出了对该方法的一些改进措施.

【作者】

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【机构】

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中国科学院计算技术研究所

【出处】

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计算机工程

【发表日期】

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2004年19期

【关键词】

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介绍了在IEEE754标准的规定下生成用于浮点功能部件的测试向量的方法,讨论了测试向量在数据通路上的差错覆盖率,并给出了对该方法的一些改进措施.

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