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利用单辊法制备宽5mm厚25μm的非晶FeSi带材，利用XRD、SEM和EDS等手段对其进行了表征，并利用4294A阻抗分析仪，在0～100MHz频率范围内研究了样品的点压磁阻抗效应。结果表明，非晶带的阻抗随着频率的增加而增加，并随压力的增加变化更加敏感，尤其是频率在1～100MHz范围内时。非晶FeSi带材具有优越的压磁效应，在频率为100MHz，阻抗变化可达34．9433Ω。