cdk5、p35和p53基因在砷诱导的神经细胞凋亡中的改变

来源 :中华劳动卫生职业病杂志 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xulingxuan
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目的 研究cdk5、p35和p53基因表达量在As2O3诱导的神经细胞凋亡中的改变,为探讨As2O3神经毒性的机制提供基础资料.方法 将原代培养的大鼠神经元分为未处理对照组,DMSO溶剂对照组,1、5、10 μmol/L As2O3染毒组,分别用1、5、10 μmol/L As2O3溶液染毒,未处理对照组只加入培养液.染毒8h后,用四甲基偶氮唑蓝(MTT)法检测神经细胞活力,用流式细胞仪检测神经细胞凋亡率,实时荧光定量聚合酶链反应(PCR)法检测cdk5、p35、p53基因的表达.结果 1、5、10 μmol/L As2O3染毒组神经细胞活力抑制率分别为16.77%、19.72%、27.81%.与未处理对照组和溶剂对照组相比,5和10μmol/L As2O3染毒组细胞凋亡率明显增加,差异有统计学意义(P<0.05).各染毒组cdk5、p35、p53基因的表达量随着染毒剂量的增加而升高,各组间p35基因表达量的差异无统计学意义(P>0.05);cdk5和p53基因表达量的组间差异有统计学意义(P<0.05),5和10 μmol/L As2O3染毒组cdk5基因表达量明显高于未处理对照组和溶剂对照组,差异有统计学意义(P<0.05);1、5和10 μmol/L As2O3染毒组p53表达量明显高于未处理对照组,差异有统计学意义(P<0.05);其中10 μmol/L As2O3染毒组p53基因表达量明显高于DMSO溶剂对照组,差异有统计学意义(P<0.05).结论 cdk5、p35和p53可能参与了As2O3诱导的神经细胞凋亡过程.
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