基于5DXX线自动测试系统的优化测试策略

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  最近安捷伦科技公司与华为技术有限公司共同对华为的生产线进行—了—‘次全面研究,进——步优十匕华为现有的测试策略,取得变革性成安女:
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雷电是一种普遍的自然现象,寂静中往往酝酿着巨大的危险。如果不采取适当的保护措施,雷涌会危及家用电器、电子设备和通信设施,造成无法弥补的损失。世界各国对雷电灾害十分重视,进行了大量的测试和研究。据传,我国亦将在全国主要城市建立雷电灾害预报系统。
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目前宽带业务所使用的非对称数字用户线路(ADSL)技术,其下行速率一般在1—6Mbps,上行速率最快约700kbps,因此无法满足视频应用所需的高带宽要求。新的ADSL2+技术提供高达24Mbps的下行带宽,但却无法提供商业客户所需的基于以太网的对称式双向通信。许多人认为,甚高比特率数字用户线路(VDSL)是实现全面家庭通讯娱乐一揽子解决方案的下——步措施。
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大多数工程师都知道现有三种基本的FPGA技术:反熔丝、FLASH和SRAM。其中,SRAM是迄今为止应用范围最广的架构,主要因为它具有可重编程能力,而反熔丝FPGA只提供一次可编程(OTP)方案。基于FLASH的FPGA也育巨以十目近的元件成本提供可重编程功能,这是FPGA领域比较新的技术。然而,许多设计决策都是以比较这些不同FPGA技术的器件成本为基础,没有从系统整体的角度出发来广泛考量各种技术
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表征抖动性能的通常方法是测量发送器的抖动输出和接收器的抖动容限。测量抖动容限时,必须增加码间干扰(ISI)、固期性抖动(PJ)和随机抖动(RJ)量的测量,以保证接收器数据信号允许有明显的抖动,而且仍然具有低误码率(BER)。
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MEMS(微机电系统)器件可同时结合机械功能和电子电路,一般采用半导体工艺来制造从微米到毫米级的器件。MEMS器件的应用范围非常广泛,包括传感器、液体力学、光学、RF、存储和生物技术应用。
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引言  产品的内在质量要靠每——层组件的EMC性能保证,在解决技术上应关注和克服产生EMC问题的原因。目前电子产品的主要组成部件都是IC;现在IC中元件密度、电流、功耗、工作速度都更大;元件内、外部工作条件更恶劣。因此集成电路内部EMC问题开始凸显,而由IC设计或制造引起的EMC问题是无法在系统级和板级上解决的,所以有必要研究芯片中EMC问题的产生过程及其测量方法。
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据日本经济新闻报导,中国台湾的力晶、茂德、南亚及华邦四家DRAM大厂,为与韩国SamsunS及日本Elpida等抗争,最近决定再投入100亿美元进行扩产。
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由衰转盛,盛而复衰是世界万物发展的不二法则。世界半导体业于2000年达到顶盛,2001年跌落深渊,200 2年稍见转机,微增1.2%,2003年凌厉增长18.4%,今年更顺势上扬28.4%,臻于顶峰。世界主要预测机构几都预言,明年世界半导体业将走缓。
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白光LED问世才不过几年的时间,就已经赢得了人们的喜爱。由于它们能发出比白炽灯泡更洁白的光线,而且使用起来比荧光灯管更方便,在各种照明应用(如手持式电子产品的闪光信号灯、显示背光等)中所占的市场份额不断稳步扩大。然而,白光LED自身也存在一—些技术问题。最显而易见的一个问题是:它们或多或少都有匹配性差的缺陷。举例来说,电流为20mA时白光LED的正向电压V,标准值是3.5V,而最小和最大值则分别达
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LED正在成为小到中型彩色显示器背光照明技术的主流选择。在显示子系统的设计中,LED的选择将对获得理想的性价比有着重要影响。此外,lED驱动IC,特别是那些新近推出的产品,能够与更廉价的LED——起工作,并通过若干方法增强LED的性能。除了亮度控制,这些驱动IC还能实现精确的亮度匹配,或者兼容若干种vF特性不同的LED。
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