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本文研究了一个采用标准0.35μm CMOS工艺制造的新型高能物理粒子轨迹追踪器.这个新型的追踪器运用CMOS有源像素传感器技术（CMOS Monolithic Active Pixel Sensors,MAPS）将信号的探测与处理电路集成在一起,在像素的内部实现了相关双次采样操作（Correlated Doubled Sampling,CDS）.实验芯片包含一个128行×32列的像素矩阵,其中,像素的大小为25×25μm^2.通过采用放射源55Fe的测定,得到像素的等效输入随机噪声（