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用磁控溅射法制备了不同Cr插层厚度的Co/Cr/Pd系列多层膜样品.通过X射线衍射对该多层膜进行了结构分析;通过测定不同Cr层厚度多层膜的磁力图、磁滞回线,分析了垂直各向异性Ku和矫顽力变化的原因;通过测定该多层膜体系的克尔谱及椭偏率谱,分析了克尔角变化的机理,认为克尔角随Cr插层厚度的增加而下降是由于Pd原子极化减弱所致.