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本文从取样原理出发讨论了数字电子显微学中利用ＣＣＤ数值电子探测器成像时选取成像尺寸或分辨率的判据、发展了利用快速Ｆｏｕｒｉｅｒ变换在倒易空间中提高取样率或分痃率的方法。
取样定理与数字电子显微学
【摘 要】
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本文从取样原理出发讨论了数字电子显微学中利用ＣＣＤ数值电子探测器成像时选取成像尺寸或分辨率的判据、发展了利用快速Ｆｏｕｒｉｅｒ变换在倒易空间中提高取样率或分痃率的方法。
【机 构】
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中国科学院北京电子显微镜开放实验室,中国科学院北京电子显微镜开放实验室北京100080,北京100080
【出 处】
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电子显微学报
【发表日期】
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1996年2期
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