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通过改进的水浴自组装技术，制备出由氧化石墨烯纳米片组成的氧化石墨烯（Graphene oxide，GO）薄膜，对该薄膜进行γ射线辐照后采用扫描电子显微镜（SEM）、X射线衍射光谱（XRD）对辐照前后的薄膜进行表征，分析辐照对GO薄膜的改性作用。结果表明，辐照后GO薄膜的层间距由0．94nm减小到0．80nm，薄膜中GO纳米片的平均厚度从1．69nm减小到0．86nm，证明了γ射线对GO薄膜良好的还原效应，使GO纳米片的层间官能团减少并导致了层间距和厚度减小。本文还探讨了γ射线辐照对GO薄膜的还原机理。