用于器件级真空封装的MEMS加速度传感器的设计与制作

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设计了一种可用于器件级真空封装的三明治电容式MEMS加速度传感器。该传感器被设计为四层硅结构,其中上下两层为固定电极,中间两层为硅一硅直接键合的双面梁一质量块结构的可动电极。利用自停止腐蚀工艺在中间质量块键合层上腐蚀出2个深入腔内的V型抽气槽,使得MEMS器件在后续的封装中能够实现内部真空。为防止V型抽气槽在划片中被水或硅渣堵塞,采用双面划片工艺。划片后,器件的总尺寸为6.8mm×5.6mm×1.72mm,其中,敏感质量块尺寸为3.2mm×3.2mm×0.86mm,
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