【摘 要】
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分析了可提升磁盘存储密度的瓦记录（SMR）技术的优势及局限性,指出SMR采用部分叠加相邻磁道的方式增大磁盘的面密度,但是这也带来了写覆盖（Write Overlay）问题,即更新某一磁道上的
【机 构】
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中国科学院计算技术研究所,中国科学院大学,首都师范大学管理学院
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分析了可提升磁盘存储密度的瓦记录（SMR）技术的优势及局限性,指出SMR采用部分叠加相邻磁道的方式增大磁盘的面密度,但是这也带来了写覆盖（Write Overlay）问题,即更新某一磁道上的数据时会覆盖相邻磁道上的有效数据,导致瓦记录磁盘（SWD）无法支持原地更新,使其非顺序写性能受到影响。为了促进该技术的应用,通过Fio和Filebench测试工具,对SMR技术的代表性产品——希捷瓦记录磁盘（SSWD）做了比较全面的测试,并对多种应用场景下SSWD的性能做了详细的测试和分析,以便为SSWD在数据中心的应
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