压接型IGBT芯片动态特性实验平台设计与实现

来源 :电工技术学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:mathayus0422
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压接型IGBT芯片在正常的运行工况下承受着电-热-力多物理量的综合作用,研究电-热-力影响下的IGBT芯片动态特性对于指导IGBT芯片建模以及规模化IGBT并联封装设计具有重要意义。为了全面获得电-热-力综合影响下压接型IGBT芯片的动态特性,该文结合双脉冲测试电路原理,研制出具备电-热-力灵活调节的压接型IGBT芯片动态特性实验平台。通过对动态特性实验平台关键问题进行有限元仿真计算,实现平台回路寄生电感、IGBT芯片表面压力分布及机械夹具温度分布的优化设计。在此基础上建立压接型IGBT芯片动态特性实验平
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目的探讨重复经颅磁刺激(rTMS)治疗脑卒中后运动功能障碍患者全脑血流量(CBF)变化情况,以进一步了解rTMS在卒中患者运动康复中的作用机制。方法收集2018年11月~2019年11月南充市中心医院住院部皮层下脑梗塞患者23例,分为rTMS真刺激组(rTMS组)15例和伪刺激组(sham组)8例;两组患者分别接受10天高频真刺激和伪刺激治疗,其余临床治疗措施相同。治疗前后分别对两组患者进行临床评估及影像数据采集。比较rTMS治疗前后运动功能评分改变及相关脑区CBF的变化情况,以及rTMS组与sham组间
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)开关过程的di/dt和du/dt是影响换流器电磁干扰(EMI)水平的主要因素。IGBT的寄生振荡是高频EMI的重要组成部分,振荡频点处会出现EMI峰值。该文提出一种考虑寄生振荡的IGBT分段暂态模型,分析回路寄生参数和器件非线性电容对开关特性的影响,分别计算不同阶段的电流和电压变化率。搭建二极管钳位感性负载测试平台,获取IGBT的电流和电压波形,分析对比分段模型和实际波形的频谱特性。最后,通过实验验证了模型中的振荡过程是影响电流频谱特性的关键,且采用器件电容Cgc<
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