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在光栅投影三维轮廓术中,直接条纹位移分析法存在着垂直条纹方向分辨率低的缺点.在分析产生低分辨率原因的基础上,提出移物法,该方法通过多次移动物体来提高测量的采样精度.测量结果表明,在不提高对光栅投影系统的要求的情况下,对物体移动N次分别进行测量,每次移动的距离为条纹宽度的1/(N+1),这样就可以使得测量精度提高N倍.