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超声波相控阵检测是新型的功能强大的NDT检测方法,并且发展迅速。相控阵技术与常规UT相比,具有能使用多个小晶片来完成声束控制、声束聚焦和产生多组角度声束的优势。相控阵探头中晶片的好坏直接关系到探头的性能。本文重点讨论了几种晶片检查的方法,并比较各方法的特点及优劣。同时总结ASME标准及ISO标准对于晶片检查的相关要求,以期为相控阵探头晶片检查提供参考。