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在遗传算法基础上提出了多目标测试点确定问题的新的解决方案。一方面由设计者根据对关键元件的关注程度,提高其相关测试点选中权值或直接预置隔离,另一方面在此基础上算法搜索出目标综合要求最高的测试点集来。为了把处于高适应度前沿的优秀编码之间的距离拉大,采用了指数方法。另外,为提高搜索的准确性,提出歧视规则的变异思路。最后通过对应用实例的仿真结果验证了算法的合理性和有效性。