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本文分析圆柱腔T Eo11模端盖上的两个对称隙缝的特性,阐明用其测量片状材料的原理和条件.介绍了测量片状小损耗介质介电常数、半导体电导率及非平衡载流子寿命等参数的结果.实验表明,圆柱T Eo11模端盖的对称隙缝可用于高精度、多功能、宽量程测量片状材料参数,且测量是无接触的,无需对样品进行特殊的加工.