在立方织构的Ni基带上沉积掺Ag的YBCO超导薄膜

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用脉冲激光沉积法在立方织构的Ni基片上成功地外延了YBCO超导薄膜 ,其临界电流密度高达 1 .1 5MA cm2 .X射线衍射分析结果表明Ni CeO2 YSZ YBCO多层结构都是c轴取向 ,CeO2 和YSZ缓冲层能有效地改进薄膜织构 ;扫描电子显微镜结果表明Ni CeO2 YSZ YBCO结构所有生长层面存在类似层状的形貌 ,而薄的一层Ag膜能有效地填充各个生长阶段由于高温下热膨胀系数不匹配形成的微裂缝 ,其结果是改进了薄膜微观结构 ,提高了临界电流密度 . YBCO superconducting thin films were successfully epitaxially grown on cubic textured Ni substrates by pulsed laser deposition with a critical current density of up to 1.15 MA cm2.The results of X-ray diffraction (XRD) indicated that the multilayer structures of Ni CeO2 YSZ YBCO were all c-axis The orientation, CeO2 and YSZ buffer layers can effectively improve the texture of the films. Scanning electron microscopy results show that all the growth layers of Ni CeO2 YSZ YBCO have similar layered morphology, while the thin Ag film can effectively fill the growth stages As a result of the mismatch in thermal expansion coefficients at the microcracks, the microstructure of the film is improved and the critical current density is increased.
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