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为分析经典解析法不能有效求解掠入射时粗糙表面的散射特性，用高阶微扰法计算了二雏分形导体表面的后向散射系数。计算值与测量值的比较证明了高阶微扰法的有效性。对不同粗糙度下掠入射时全极化指数的研究，获得了不同入射条件下极化指数与掠入射角余切函数曲线的拟合和有效表达式，修正了前人的结论，并发现用高阶解析法可区分粗糙表面的类型。